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     LTE測試卡、4G測試卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、GSM測試卡、CDMA測試卡、UIM測試卡、RUIM測試卡、WCDMA手機(jī)測試、TD-SCDMA測試卡、CDMA2000測試卡、手機(jī)測試卡(又稱白卡)，使用于通訊工業(yè)生產(chǎn)的信號測試（LTE（Long Term Evolution，長期演進(jìn))是由3GPP組織制定的UMTS技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的長期演進(jìn)，于2004年12月3GPP多倫多TSG RAN#26會議上正式立項(xiàng)并啟動。

    LTE系統(tǒng)引入了OFDM和多天線MIMO等關(guān)鍵傳輸技術(shù)，顯著增加了頻譜效率和數(shù)據(jù)傳輸速率（峰值速率能夠達(dá)到上行50Mbit/s,下行100Mbit/s），并支持多種帶寬分配：1.4MHz,3MHz,5MHz,10MHz,15MHz和20MHz等，頻譜分配更加靈活，系統(tǒng)容量和覆蓋顯著提升。LTE測試卡無線網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)更加扁平化，減小了系統(tǒng)時(shí)延，降低了建網(wǎng)成本和維護(hù)成本。LTE系統(tǒng)支持與其他3GPP系統(tǒng)互操作。

   LTE的測試首先需要模擬LTE射頻信號，并且研究其統(tǒng)計(jì)特性。對于LTE下行，研究人員可以從WiMAX和WLAN等技術(shù)中參考得到OFDMA的射頻特性。但是對于LTE上行，LTE上行使用的SC-FDMA技術(shù)在其他標(biāo)準(zhǔn)中并沒有使用。其次在LTE信號的射頻分析方面，由于LTE信號采用了新的接入方式OFDMA，信號帶寬最高可達(dá)20MHZ。